Für TOF Messungen, Elektronenmikroskopie, Bilderfassung von UV-, VUV-, XUV-, Röntgen-Strahlung, Elektronen, geladenen Teilchen und Ionen und die Oberflächen Analyse im Vakuum. Die GIDS-GmbH bietet MCPs als Einzelstücke, angepasstes Doppel Set oder Dreifach Set als Ersatz für ausgebrannte Detektor Bauteile. Die Gids-GmbH bietet auch fertig montierte MCP Aufbauten mit Metallanode oder Phosphorschirm frei vom Kunden im Vakuum montierbar oder auch fertig montierte MCP-Detektoren im Hochvakuum-Flansch oder Hochvakuum-Viewport mit integrierten Hochspannungs-durchführungen.
MCP Struktur
Eine Vielkanalplatte oder auch Mikrokanalplatte (MCP) ist eine Bleiglasplatte die eine Vielzahl von Kanälen mit einem Durchmesser von 4-50 µm enthält. Jeder einzelne Kanal arbeitet wie ein Elektronenvervielfacher wobei die Länge eines Elektronenvervielfachers der Dicke der Glasplatte entspricht. Das Aspektverhältnis ist die Dicke/Kanaldurchmesser der MCP. Die Kanalachse ist um einen kleinen Winkel (6° bis 12°) geneigt, um die Emission von Sekundärelektronen in den Kanälen zu optimieren. Unter dem Einfluss einer angelegten Hochspannung werden eintretende Elektronen in den Kanälen beschleunigt, stoßen gegen die Wand und erzeugen je Stoß 3-5 freie Elektronen. Ein MCP mit einem Aspektverhältnis 40:1 und einer angelegten Spannung von 1000 Volt verstärkt die Elektronen um einen Faktor von mehr als 10000. Ein einzelner Kanal kann als eine Dynodenstruktur einer Photomultiplierröhre verstanden werden. Durch den geringen Kanaldurchmesser sind Bild-Anwendungen in hoher Auflösung möglich.
Die GIDS GmbH bietet MCPs für verschiedene Anwendungen an. Es ist möglich Elektronen, Positronen, Protonen, schwere Ionen, Röntgen-, XUV-, VUV- und UV-Strahlung nachzuweisen, die Position, Cluster-Parameter, Flugzeit und Ionen-Beitrag zu messen. Kundenspezifische MCP Entwicklung ist ebenfalls möglich.
Eigenschaften
- Hohe Empfindlichkeit
- Nachweis von Elektronen, Ionen, Röntgen-, UV-, VUV-, XUV- Strahlung
- CsI Beschichtung zur Empfindlichkeitssteigerung ist möglich
- Unempfindlich gegen magnetische Felder
- Ausheizen bis zu 400°C in Vakuum möglich
- Einzelne MCPs und abgestimmte doppel- (Chevron) und dreifach Sets sind verfügbar
- Hochauflösende MCPs sind verfügbar (bitte fragen Sie nach)
- Kundenspezifische MCP Entwicklung ist möglich
Anwendungen
- Verstärkung in Elektronenröhren, Bildverstärkern und Streak-Röhren und schnellen PMTs
- Teilchennachweis in Analysegeräten
- TOF-Massenspektrometer
- ESCA, EBMS, FIM, LEED etc.
- Kosmische Strahlung und Teilchen Physik
- Nachweis von Plasma Ionen, Elektronen und hochenergetischen Teilchen
- Nachweis von UV-,VUV-, XUV Licht und Röntgenstrahlung
Weitere Informationen mit Eigenschaften und Teilenummern stehen in unserem Datenblatt MCP-Typen zur Verfügung. Falls Sie weitere Information über MCPs für Ihre Anwendung benötigen oder ein Angebot wünschen kontaktieren Sie uns bitte.
MCP Detektor Typen
Mehrere MCP-Detektortypen stehen zur Verfügung auf der Basis der verfügbaren MCPs. Die MCP-Detektoren können als Einzel-, Doppel- und Dreifach- MCP Aufbau mit Metall-Anode oder Leuchtschirm montiert werden. Sie ohne Flansch als kompakte Detektor-Einheit frei montierbar in Ihrem Vakuumsystem oder fertig montiert in CF Hochvakuum-flansch oder CF Viewport mit integrierten Hochspannungsdurchführungen.
Counting Detektor mit Flansch
Die GIDS GmbH bietet MCP-Detektoren mit Metall-Anode für verschiedene Anwendungen. Es ist möglich, Elektronen, Positronen, Protonen, Schwerionen, Röntgenstrahlen, VUV-und UV-Strahlung zu detektieren und die Flugzeit zu messen. Durch den Aufbau im Ultra-Hochvakuum-Flansche (CF-Flansch) ist es möglich, das System in jedem analytischen Instrument, das auf dem CF-Standard basiert zu integrieren. Es auch möglich, die Systeme auf andere Flansch-Standards wie ISO-K, ASA oder kundenspezifische Normen zu montieren (auf Anfrage). Die Flansche sind mit 3 integrierten SHV Hochspannungs- Durchführungen versehen, um die hohen Spannungen an den MCP-Detektor anzulegen.
Im die MCP-Detektoren sind in zwei Versionen erhältlich. Eine schmale Ausführung mit minimalen Durchmesser der Anordnung (links) und einer breiten Ausführung (rechts) mit stabiler Grundplatte (gelb), wenn Platz auf den Seiten der Vakuumkammer vorhanden ist.
Weitere Informationen stehen in unserem Datenblatt MCP-Detektor-CF-Flansch-Aufbau zur Verfügung. Falls Sie weitere Information über MCPs für Ihre Anwendung benötigen oder ein Angebot wünschen kontaktieren Sie uns bitte.
Imaging Detektor auf Fensterflansch
GIDS GmbH bietet offene MCP-Detektoren mit Phosphorschirm für unterschiedliche Anwendungen fertig montiert im CF Flansch mit integriertem Schauglas und HV Durchführungen. Es ist möglich Elektronen, Positronen, Protonen, Schwerionen, Röntgenstrahlen, VUV-und UV-Strahlung bildhaft zu erfassen, die Position und Cluster Parameter in Abhängigkeit der verwendeten Auslese zu analysieren. Zusätzliche kundenspezifische Gewindebohrungen könnten auf der nicht Vakuumseite integriert werden, um die Montage einer Kamera oder eines anderen Auslesesystems zu ermöglichen. Durch die Montage im CF Schauglas, ist es möglich, das System in alle analytischen Instrumente zu integrieren, die auf dem CF-Standard basieren. Es ist auch möglich, den MCP Detektor auf anderen Flansch Standards wie ISO-K, ASA oder kundenspezifische Standards zu montieren. Der Flansch ist mit 3 integrierten Vakuum SHV Durchführungen ausgerüstet, um die Hochspannung anzulegen.
Weitere Informationen stehen Ihnen in unserem Datenblatt MCP-Detektor-CF-Schauglas-Aufbau Download PDF zur Verfügung. Falls Sie weitere Information über MCPs für Ihre Anwendung benötigen oder ein Angebot wünschen kontaktieren Sie uns bitte.
Eigenschaften
- Standardgrößen
- Attraktive Preise
- Hohe Effizienz
- Empfindlich auf Elektronen, Ionen, VUV-und UV-Licht, Röntgen-und Gamma-Strahlen
- Schnelle Ansprechzeit
- Störfestigkeit gegen Magnetfelder
- Demontierbar
- Ausheiztemperatur bis zu 200 °C
- Einzel-, Doppel-und Dreifach-MCP-Aufbauten stehen zur Verfügung
- Metall Anoden Versionen
- Leuchtstoffe P43, P46, P47 und andere (auf Anfrage)
- Kundenspezifische Ausführungen (auf Anfrage)
Anwendungen
- Teilchen-Detektion in analytischen Systemen
- Massenspektrometer
- TOF-Massenspektrometer
- Nachweis kosmischer Strahlung
- Nachweis von Plasma-Ionen
- Detektion von UV-, VUV-, XUV-Licht und Röntgenstrahlen
- EElementarteilchenphysik
- Nachweis von Ionen, Elektronen, Positronen und hochenergetische Teilchen